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公开(公告)号CN115863152B | 申请号CN202111123390.8 | 专利类型发明授权 |
状态有效 | 国家或地区CN | 申请人芯恩(青岛)集成电路有限公司 |
分类号H10P76/20(2026.01), H10D30/60(2025.01) | 申请日2021-09-24 | 公开日2026-11-03 |
发布日期2026-11-03 | 文档 ID84696768749100004 | 源数据页码1589 |
专利语言zh | ||
本发明公开了一种图案化方法、图案化结构及半导体器件,图案化方法包括:提供一衬底;在衬底的一表面形成图形外延诱导结构,图形外延诱导结构包括第一间隔和由第一间隔间隔开的第一凸起,第一凸起的材料为嵌段共聚物;在第一间隔内填充诱导层,并对形成第一凸起的嵌段共聚物进行定向自组装,以形成多个改质区域;选择性去除嵌段共聚物中的部分改质区域,以形成图案化结构,图案化结构的间隔尺寸与第一间隔的尺寸相同。本发明中的图案化方法及结构能够在应用于生产半导体器件时,提高半导体器件的空间利用率。
附图 1