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公开(公告)号CN116705123B | 申请号CN202210174935.6 | 专利类型发明授权 |
状态有效 | 国家或地区CN | 申请人长鑫存储技术有限公司 |
分类号G11C29/00(2006.01), G11C29/08(2006.01) | 申请日2022-02-24 | 公开日2026-10-23 |
发布日期2026-10-23 | 文档 ID84601509225300000 | 源数据页码2187 |
专利语言zh | ||
本申请实施例提供一种测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序,该方法包括:对冗余阵列中的所有第二位元写入第一数值;采用待验证的目标映射关系通过冗余阵列的第二位元对主阵列中对应的第一位元进行修复,映射关系包括第二位元的地址与对应的第一位元的地址之间的修复关系;对主阵列中所有第一位元写入第二数值,第一数值与第二数值不同;判断第二位元中的数值是否为第一数值,若否,则将第二位元作为实际修复位元,并记录实际修复位元的地址;根据预设映射关系和实际修复位元的地址判断目标映射关系是否正确。本申请实施例可以通过对主阵列的修复和简单的读写过程,实现对目标映射关系的有效验证。
附图 1