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公开(公告)号CN117825799B | 申请号CN202311803587.5 | 专利类型发明授权 |
状态有效 | 国家或地区CN | 申请人本源量子计算科技(合肥)股份有限公司 |
分类号G01R27/02(2006.01) | 申请日2023-12-25 | 公开日2026-10-23 |
发布日期2026-10-23 | 文档 ID84601520615800005 | 源数据页码2260 |
专利语言zh | ||
本发明公开了一种非对称超导量子比特电路的电阻测量方法及其应用。非对称超导量子比特电路包括位于衬底上并联的面积不同的两个约瑟夫森结,电阻测量方法包括:从两个约瑟夫森结中选定至少一个约瑟夫森结为第一约瑟夫森结;按照第一约瑟夫森结的形状在衬底上形成独立的第一测试结;对第一测试结的两端进行测量获得第一测量电阻,以及以第一测试结的两端间距作为测量间距对衬底进行单独测量获得补偿电阻;利用补偿电阻对第一测量电阻进行修正得到第一测试结的修正电阻;根据修正电阻确定第一约瑟夫森结的真实电阻。本发明通过测试结的电阻测量间接实现约瑟夫森结的电阻测量,而且考虑了衬底对电阻测量的影响,从而能够准确测量约瑟夫森结电阻。
附图 1