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公开(公告)号CN117929397B | 申请号CN202410029753.9 | 专利类型发明授权 |
状态有效 | 国家或地区CN | 申请人华南理工大学 |
分类号G01N21/892(2006.01), G01N21/01(2006.01), G06T7/00(2017.01), G06T7/187(2017.01), G06T7/155(2017.01) | 申请日2024-01-09 | 公开日2026-10-23 |
发布日期2026-10-23 | 文档 ID84601483714400004 | 源数据页码2074 |
专利语言zh | ||
本发明公开了一种键盘盖板表面图像的采集系统及键盘盖板表面质量的检测方法,所述系统包括垂直线阵相机、倾斜线阵相机、多个频闪线光源、传送带以及两个棱镜,垂直线阵相机与放置于传送带的橡胶带上的键盘盖板表面垂直;在垂直线阵相机至键盘盖板表面方向上,多个频闪线光源分别对应设置在垂直线阵相机的中垂线两侧,且与键盘盖板表面等距;倾斜线阵相机设置在垂直线阵相机的中垂线的一侧,对应地另一侧设置频闪线光源;两个棱镜对称设置在橡胶带两侧以将键盘侧面边框反射到垂直线阵相机和倾斜线阵相机。本发明通过采集系统可以实现对键盘盖板表面图像的高效采集,通过检测方法可以对键盘盖板表面的缺陷实现快速高效的自动化检测。
附图 1