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公开(公告)号CN122719399B | 申请号CN202611188656.X | 专利类型发明授权 |
状态有效 | 国家或地区CN | 申请人碳芯微电子科技(深圳)有限公司;赛伯宸半导体(浙江)有限公司 |
分类号H10P72/00(2026.01), B07C5/02(2006.01), B07C5/38(2006.01), B07C5/36(2006.01), H10P72/10(2026.01), H10P72/30(2026.01), H10P74/20(2026.01) | 申请日2026-08-06 | 公开日2026-10-23 |
发布日期2026-10-23 | 文档 ID84601473067900005 | 源数据页码2020 |
专利语言zh | ||
本申请涉及一种晶圆全自动检测分选设备,涉及自动分选设备技术领域。该设备包括机架、上料架、检测件、多个分选架、取放料件、多个下料架、取放盘件和取放盘驱动件。上料架用于承载多个待检测晶圆盘;检测件对晶圆进行质量检测并输出质量等级信号;多个分选架沿第一方向间隔设置,分别对应不同的质量等级;取放料件在上料架、检测件和分选架之间搬运晶圆;下料架与分选架一一对应设置,用于承载已检测晶圆盘;取放盘件在分选架与下料架之间搬运晶圆盘。本申请实现了晶圆从上料、检测、Bin值分选到下料的全流程自动化闭环,解决了现有技术中人工频繁介入、设备停机等待和不同Bin等级晶圆混料风险等技术问题。
附图 1