芯片测试模式的使能控制电路、使能控制方法和芯片

著录项目

摘要

公开了一种芯片测试模式的使能控制电路、使能控制方法和芯片，该使能控制电路包括：检测模块，在每次检测到芯片的第一引脚上出现负压脉冲信号时产生检测信号；计数器，与检测模块连接以对检测信号进行计数。在第一引脚上出现负压脉冲序列的过程中，计数器对检测信号进行持续计数使计数值递增，并在该计数值达到预设数值时输出测试使能信号，控制芯片进入测试模式。以负压脉冲信号作为检测条件，可以有效防止正电压下的引脚漏电问题，且仅在特定电压条件下才触发测试模式，提升了测试模式进入的可靠性和安全性。同时，通过设置对负压脉冲序列的判断和对计数值的检测，降低因噪声或干扰导致误入测试模式的概率。

附图

附图 1