集思谱需要我帮你解读这件专利吗？
公开（公告）号CN122943985A | 申请号CN202611077312.1 | 专利类型发明专利 |
状态在审 | 国家或地区CN | 申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
分类号G01J3/28(2006.01), G01J3/02(2006.01), G06V10/147(2022.01) | 申请日2026-07-20 | 公开日2026-10-20 |
发布日期2026-10-20 | 文档 ID84597877585500000 | 源数据页码828 |
专利语言zh | ||
本发明涉及光谱成像技术领域，尤其涉及一种基于可微物理驱动的广视场光谱成像自校准方法及其系统。该自校准方法首先搭建由滤光片阵列及图像传感器构成的光谱成像装置；构建可微物理前向计算模型与滤光片内部实际光传输物理过程相结合，获取标量光谱测量值；采集稀疏角度入射的透射光谱原始数据；构建联合优化目标函数，完成真实微观结构参数的迭代求解，精准反演出滤光片的薄膜物理厚度、折射率系数，动态修正宽视场任意大角度入射条件下的光谱传感测量矩阵，完成光谱成像解码重构。本发明能够精准补偿大角度倾斜入射引发的光谱蓝移效应，有效弱化因入射角变化、加工微偏差带来的光谱畸变问题，消除光谱重建过程中的伪红移缺陷与结构性成像伪影。
附图 1