基于晶粒级配与多相交联的涂层光学与热力学分析方法

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摘要

本发明涉及涂层分析技术领域，公开了一种基于晶粒级配与多相交联的涂层光学与热力学分析方法。本发明旨在解决现有涂层性能评估手段将微观结构与宏观性能割裂，难以量化内在影响规律并提取最佳反光与隔热临界条件的问题。本发明通过制备包含特定晶粒级配与交联网络的涂层样品，提取颗粒密实度与交联键强度特征；协同分光光度计与热机械分析仪测定光学反射率、导热系数与热膨胀系数；进而构建微观耦合指数与宏观热光效能指标并建立两者间的数据映射关系，通过一阶求导定位数据曲线拐点，提取特征变化阈值，从而客观判定并量化涂层内部微观结构对其综合反光与隔热性能的临界影响规律。

附图

附图 1