集思谱需要我帮你解读这件专利吗？
公开（公告）号CN122948833A | 申请号CN202611162150.1 | 专利类型发明专利 |
状态在审 | 国家或地区CN | 申请人北京思谋智能科技有限公司 |
分类号G06T7/00(2017.01), G06T7/62(2017.01), G06V10/52(2022.01), G06V10/764(2022.01), G06V10/80(2022.01), G06V10/82(2022.01), G06N3/045(2023.01), G06N3/084(2023.01), G06N5/04(2023.01) | 申请日2026-07-31 | 公开日2026-10-20 |
发布日期2026-10-20 | 文档 ID84597907353900009 | 源数据页码934 |
专利语言zh | ||
本申请涉及一种缺陷处理方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，能够避免缺陷漏检，提升缺陷检测效果。该方法包括：获得标注掩码图像中每个样本缺陷区域的像素面积；基于初始缺陷检测模型对样本图像进行处理，得到每个像素的预测像素概率；基于每个样本缺陷区域的像素面积和面积阈值范围，确定每个样本缺陷区域中每个像素的目标缺陷类别；基于每个像素的目标缺陷类别和每个像素对应的样本缺陷区域，计算每个像素的目标权重；基于每个像素的目标权重、每个像素的真实标注掩码、每个像素的预测像素概率，计算目标损失；基于目标损失对初始缺陷检测模型的模型参数进行更新，得到目标缺陷检测模型。
附图 1