用于芯片测试的衰减器控制模式隔离电路及射频衰减电路

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摘要

本申请涉及芯片测试技术领域，提供了一种用于芯片测试的衰减器控制模式隔离电路及射频衰减电路。用于芯片测试的衰减器控制模式隔离电路包括：衰减器、串行控制接口、拨码开关以及模式切换使能开关，衰减器包括锁存使能端；其中：模式切换使能开关连接于锁存使能端、串行控制接口和拨码开关之间，并具有第一连接状态和第二连接状态；当模式切换使能开关处于第一连接状态时，锁存使能端与串行控制接口导通，与拨码开关断开，以使衰减器根据串行控制接口输入的串行控制信号设定衰减值;当模式切换使能开关处于第二连接状态时，锁存使能端与拨码开关导通，与串行控制接口断开，以使衰减器根据拨码开关输出的异步控制信号设定衰减值。

附图

附图 1