一种射线检测记录打码追溯系统及方法

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摘要

本发明涉及材料检测技术领域，具体公开了一种射线检测记录打码追溯系统及方法，根据被检测材料的三维几何数据确定辐射源、探测器和转片衰减阵列在各采集位置的几何关系，将追溯信息转换为分布于多个采集位置的编码图案序列，并通过衰减单元的互补衰减状态进行射线采集。根据空场辐射强度和出射强度修正入射强度，从采集数据中分离编码图案衰减线积分值与被检测材料衰减线积分值，并利用状态偏差参与体素衰减系数更新。根据实际衰减状态还原追溯信息，并将追溯信息与三维图像对应保存。本发明能够降低打码过程对材料图像重建结果的干扰，并形成与三维图像对应的检测追溯记录。

附图

附图 1