电机绝缘老化加速试验方法、计算机设备和可读存储介质 · CN122962410A

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公开（公告）号CN122962410A	申请号CN202611100157.0	专利类型发明专利
状态在审	国家或地区CN	申请人中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
分类号G01R31/34(2020.01), G01R31/12(2020.01), G01R19/00(2006.01), G01R19/165(2006.01), G01R31/52(2020.01)	申请日2026-07-23	公开日2026-10-23
发布日期2026-10-23	文档 ID84601390232000004	源数据页码1608
专利语言zh

摘要

本申请涉及一种电机绝缘老化加速试验方法、计算机设备和可读存储介质。应用于待测电机，所述待测电机的定子绕组预先设置有局部绝缘加工点位，所述局部绝缘加工点位引出有外接端子，所述定子绕组经由所述外接端子形成有局部短路通路；方法包括：在所述待测电机处于预设测试工况的情况下，向所述局部短路通路输出多组通断控制信号，其中，所述多组通断控制信号用于生成不同时长的耦合应力，所述耦合应力包括电应力和热应力；获取所述待测电机在所述多组通断控制信号下各自对应的三相电流参数；基于所有三相电流参数检测所述待测电机的绝缘老化状态，直至检测到所述待测电机绝缘失效。采用本方法提升了检测电机绝缘失效状态的检测准确性。

附图

附图 1