用于芯片测试的继电器扩容系统和方法

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摘要

本发明提供了一种用于芯片测试的继电器扩容系统和方法。N个接口扩展电路和芯片测试机。每个接口扩展电路具有唯一地址符，通过数字传输端口接收芯片测试机提供的串行数字信号，并根据串行数字信号给每个输出端口赋值以输出M个扩展信号用于控制继电器的连接状态。芯片测试机为每个输出端口设置唯一标识符，并根据写入的标识符和预存的接口扩展电路地址符判断写入的标识符所对应的接口扩展电路地址，并将写入的标识符解析后生成串行数字信号。该系统可灵活设置接口扩展电路及其输出端口的数量，同时可以根据待测试的参数自动寻址，提高了测试效率和可靠性。

附图

附图 1