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公开（公告）号CN123015201A | 申请号CN202510572818.9 | 专利类型发明专利 |
状态在审 | 国家或地区CN | 申请人京东方科技集团股份有限公司 |
分类号G06Q50/04(2012.01), G06F18/211(2023.01), G06F18/2431(2023.01), G06N5/01(2023.01) | 申请日2025-04-30 | 公开日2026-10-30 |
发布日期2026-10-30 | 文档 ID84661698075200000 | 源数据页码72 |
专利语言zh | ||
本发明公开了一种确定不良原因的方法、设备及存储介质，该方法包括：获取目标产品的生产过程的设备特征数据；利用设备特征数据对至少两种预测模型进行训练，并从训练后的每种预测模型提取N维设备特征的第一特征重要性，以得到至少两组第一特征重要性，每组第一特征重要性表征N维设备特征对目标产品的生产过程中产生不良品的贡献程度；根据至少两组第一特征重要性，确定N维设备特征的第二特征重要性；根据第二特征重要性，从N维设备特征中确定出目标产品的生产过程中产生不良品的原因信息。通过本发明解决了利用计算机对产品的生产过程数据进行分析，得到产生不良品的原因准确性不高的技术问题。
附图 1