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公开（公告）号CN123015544A | 申请号CN202611495479.X | 专利类型发明专利 |
状态在审 | 国家或地区CN | 申请人上海毫米星光光学股份有限公司 |
分类号G06T7/00(2017.01), G06T7/73(2017.01), G06T7/11(2017.01), G06T7/13(2017.01), G06T7/187(2017.01), G06T7/181(2017.01), G06T7/62(2017.01), G06T5/80(2024.01) | 申请日2026-09-24 | 公开日2026-10-30 |
发布日期2026-10-30 | 文档 ID84661698018400008 | 源数据页码69 |
专利语言zh | ||
本发明涉及外观缺陷检测技术领域，公开了一种微棱镜切割崩边的多方向暗场检测方法及系统，包括：将待测微棱镜定位于定姿载具检测工位确立机械像素零点，执行掠射与图像序列最大值投影得到双面散射图像集；提取动态光学锚点，联合机械像素零点构建跨曲率空间映射矩阵进行坐标映射与插值，得到对齐响应图像集；提取高亮连通域进行解耦区分得到面内缺陷登记表，并计算非对称形态畸变参数，联合执行缺陷分类判定得到表面缺陷类型集合。本发明解决了跨工作面流转的坐标基准失效与缺陷特征混叠问题，实现了微小缺陷精准分类提取，提高了检测准确性与效率。
附图 1