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公开(公告)号CN123022266A | 申请号CN202611154364.4 | 专利类型发明专利 |
状态在审 | 国家或地区CN | 申请人江苏盘古半导体科技股份有限公司 |
分类号H10W70/60(2026.01), H10W70/65(2026.01), H10W70/66(2026.01), H10W70/05(2026.01), H10W74/10(2026.01), H10W74/47(2026.01), H10W74/01(2026.01) | 申请日2026-07-31 | 公开日2026-10-30 |
发布日期2026-10-30 | 文档 ID84661727755700003 | 源数据页码232 |
专利语言zh | ||
本发明提供了一种半导体封装结构和制作方法,其能够减少焊点数量和封装层数,增加生产效率。其包括:第一多层线路层;第二多层线路层;硅桥复合层,其包括若干组硅桥、若干铜柱、以及第一塑封体,若干组所述硅桥中包括有带有TSV结构的第一硅桥;芯片封装层,其包括芯片组、填充层、第二塑封体,所述芯片组包括至少一计算和存储芯片;阻焊油墨层;以及若干锡球;所述芯片封装层、第一多层线路层、硅桥复合层、第二多层线路层、阻焊油墨层顺次叠装复合,所述阻焊油墨层上布置有下凸的若干锡球,所述锡球用于印刷电路板的焊接,所述第一硅桥、铜柱用于将第一多层线路层、第二多层线路层之间的信号连通设置。
附图 1