一种基于统计角漂移控制的电路设计参数求解方法和装置

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摘要

本申请提供一种基于统计角漂移控制的电路设计参数求解方法和装置，属于集成电路设计领域。方法包括：确定目标良率对应的电路设计参数集和工艺随机参数集；固定设计参数集，通过仿真获取电路性能样本并计算统计角；迭代优化时，依据性能值与阈值差距确定优化起点，根据相邻周期统计角漂移更新信赖域尺寸以获得实时信赖域；在实时信赖域内优化参数直至满足停止条件，得到最优设计参数，确保电路在工艺随机扰动下达到目标良率。本发明通过统计角漂移约束与信赖域自适应调整，有效抑制统计角漂移，减少仿真次数，提高良率优化的稳定性与效率。

附图

附图 1