一种设备固件数据完整性自检方法、电子设备及存储介质

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摘要

本发明公开了一种设备固件数据完整性自检方法、电子设备及存储介质，方法包括：S1：编译生成bin文件；S2：重新编译生成新的bin文件；S3：追加mac校验码；S4：烧录；S5：自检；S6：充注量子密钥；S7：重新计算mac校验码；S8：复位，并判断默认密钥标志位是否置零；S9：判断mac校验码是否一致；S10：执行结束。本发明通过在设备启动阶段，并且结合量子密钥进行完整性自检，有效防止第三方对设备固件代码进行篡改，保证设备固件数据完整性，提高设备固件数据安全。本发明可应用于量子科技未来产业领域量子计算、量子通信和量子测量产品研发和场景应用，特别涉及多场景接入、后处理系统、嵌入式系统等软件系统开发。

附图

附图 1